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精密低阻测量
　　在低电流电路中，机电元件的接触故障是元件可靠性中的主要问题。HP 4338B提供可选择的低交流测试信号(1μA~10mA)。用户目前可在低电流的条件下来表征机电元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用来确定继电器、开关、接头、印制电路板图形和电缆在接触电阻测试中的微小差别。1kHz测试信号了由热电对被测元件接触的影响而引入的潜在误差。1kHz的交流测试信号是检查电池内阻的方法，因为它避免了直流能量的消耗。

　　高速测量
　　高速(34ms)内设比较器和HP-IB/处理器接口有可能用自动处理器和外部计算机构成一个测量系统，使生产测试时间缩短到低限度。

　　自动测量方式
　　在进行大量连续的测试、而测试信号电平又不是很主要的因素时，自动测量功能会使仪器选择合适的测试信号并设定测量范围。
技术指标
　　(全面的技术指标请参阅技术资料)
测量功能
测量参数：R(交流电阻)，X(电抗)，L(电感)，|Z|(阻抗)，θ(相位[°])
组合参数：R，R-X，R-L，｜Z｜-θ(只适用于串联模式)
数学功能：偏差和相对偏差(以百分比表示)
显示数字：3.4或5位(可选择)
测试信号特性
测试频率：1kHz
频率精度：±0.1%
测试信号电平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms
电平精度：±(10%＋0.2μA)
样品两端的大电压：在任何情况下大为20mV峰值
测量范围
　参数　　　测量范围
　R　　　　 10μΩ~100kΩ
　X,|Z|　　 10μΩ~100kΩ (典型值)
　L　　　　 10nH~10H(典型值)
　θ　　　　 -180°~＋180°(典型值)
测量精度：R的基本精度为±0.4%
测量时间：从触发命令到处理器界面端口上的结束测量(EOM)信号输出的时间间隔
模式　　时间(典型值)
短　　　34ms
中等　　70ms
长　　　900ms
修正功能
短路误差为0：由测试夹具中杂散寄生阻抗引的测量误差