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电子元件 芯片检测专用X射线仪
XR-501型微焦距X射线仪
微焦距X射线仪 是由东莞矩正科技公司开发生产的新一代的X射线检测仪器，它采用新型成像技术和内置式高压发生装置，由于新型成像技术具有极高的灵敏度，因此射线剂量非常低，这样同时保证了操作者安全。主要用于电子产品，电子元件，半导体元器件，BGA,IC芯片，CPU，电热丝，发热盘，热敏电阻，电容，集成电路，电路板等无损检测（检测电子元件内部是否变形，脱焊；空焊等）；还可以用于塑料气泡等检测。本机具有如下特点:  

⒈不用暗室，不用防护即可直接实时观察；
⒉高增益、高灵敏度、高空间分辨率，操作简便。
⒊射线剂量低，安全可靠，结构简化，体积小，重量轻
⒋可以按用户要求接驳影视和电脑系统。
适用于 电子芯片 电子接插件 以及体积较小的产品观察内部接线分布
二. 性能
     空间分辨率  ≥30lp/cm
     灰度等级    ≥6级
     可容大厚度不超过  120mm
    X射线机的有效视野为Φ60mm
    X射线管电压为    65kV
   X射线管电流为    0.3mA

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